Billedet kan være en repræsentation.
Se specifikationer for produktdetaljer.
SN74LVTH182512DGGR

SN74LVTH182512DGGR

IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP
Varenummer
SN74LVTH182512DGGR
Producent/Mærke
Serie
74LVTH
Del status
Active
Emballage
Cut Tape (CT)
Driftstemperatur
-40°C ~ 85°C
Monteringstype
Surface Mount
Pakke/etui
64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)
Leverandørenhedspakke
64-TSSOP
Forsyningsspænding
2.7 V ~ 3.6 V
Antal bits
18
Logisk type
ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
Anmod om tilbud
Udfyld venligst alle påkrævede felter og klik på "SEND", vi kontakter dig om 12 timer via e-mail. Hvis du har problemer, bedes du efterlade beskeder eller e-mail til [email protected], vil vi svare hurtigst muligt.
På lager 17539 PCS
Kontakt information
Nøgleord afSN74LVTH182512DGGR
SN74LVTH182512DGGR Elektroniske komponenter
SN74LVTH182512DGGR Salg
SN74LVTH182512DGGR Leverandør
SN74LVTH182512DGGR Distributør
SN74LVTH182512DGGR Datatabel
SN74LVTH182512DGGR Fotos
SN74LVTH182512DGGR Pris
SN74LVTH182512DGGR Tilbud
SN74LVTH182512DGGR Laveste pris
SN74LVTH182512DGGR Søg
SN74LVTH182512DGGR Indkøb
SN74LVTH182512DGGR Chip